Статьи из блога

Создан новый настольный микроскоп FEG-SEM для передовых исследований наноматериалов

Новая настольная электронно-эмиссионная пушка Phenom Pharos G2 компании Thermo Fisher Scientific - сканирующий электронный микроскоп (FEG-SEM) предназначена для расширения доступа к расширенным возможностям исследования наноматериалов. Напомним, что больше новостей, цен, калькуляторов и прочей информации из мира металлургии вы всегда найдёте на портале MetallPlace.ru здесь.

 

Электронно-эмиссионная пушка Phenom Pharos G2 компании Thermo Fisher Scientific - сканирующий электронный микроскоп (FEG-SEM). (Фото любезно предоставлено Thermo Fisher Scientific)

 

Компания Thermo Fisher Scientific со штаб-квартирой в Уолтхэме, Массачусетс, США, представила настольную полевую эмиссионную пушку Thermo Scientific Phenom Pharos G2 - сканирующий электронный микроскоп (FEG-SEM), предназначенную для расширения доступа к передовым возможностям исследования наноматериалов. Этот прибор позволяет клиентам использовать настольный микроскоп для интуитивно понятного определения размера, формы и химического состава широкого спектра наночастиц с высоким разрешением изображения.

 

С помощью Phenom Pharos G2 материаловеды могут определять морфологию наноматериалов в таких материалах, как металлы, минералы и керамика с разрешением 2,0 нм при 20 кВ, открывая путь к достижению прогресса в производстве, электронике, чистой энергии и других приложениях. Исследователи также могут получать изображения мягких, чувствительных к лучу или изолирующих образцов при уровнях энергии всего 1 кВ, получая изображения полимеров и многослойных органических пленок с высоким разрешением без повреждения или затемнения их наноразмерных характеристик.

 

«Phenom Pharos G2 продвигает исследования наноматериалов, обеспечивая высокое разрешение и широкий диапазон ускоряющего напряжения, и все это в настольной системе, которая может поместиться в лаборатории или офисе», - заявила Рози Ли, вице-президент и генеральный менеджер по материаловедению в компании Thermo Fisher. «Этот простой в использовании прибор, от более современного текстиля и упаковки для пищевых продуктов до улучшенной солнечной и ветровой энергии, поддерживает быстрые инновации в широком спектре отраслей».

 

Phenom Pharos G2 отличается интуитивно понятным управлением и высокой производительностью, что делает его универсальным прибором для крупных промышленных и академических лабораторий. Преимущества включают:

 

  1. Визуализация с высоким разрешением: пользователи могут получать изображения с высоким разрешением 2,0 нм, по сравнению с 2,5 нм в предыдущей версии.
  2. Расширенный энергетический диапазон по сравнению с предыдущей моделью: более широкий диапазон ускоряющего напряжения 1-20 кВ обеспечивает универсальность для визуализации широкого диапазона образцов.
  3. Быстрое получение изображения: изображения могут быть получены всего за 30 секунд для высокоточной обработки исследуемых образцов.
  4. Простота использования: интуитивно понятный пользовательский интерфейс на широкоформатном мониторе 61 см (24 дюйма) с предустановками для упрощения использования и уменьшения количества человеческих ошибок при организации рабочих процессов.
  5. Быстрая установка: установка на 40% быстрее, чем в предыдущей версии, ускоряя время до получения результатов.
  6. Повышенная надежность: интегрированный источник питания и прочные детали предназначены для обеспечения воспроизводимости данных и сокращения перерывов в производительности.

 

Характеристики оборудования Phenom Pharos G2

 

Разрешение
  • 2.0 nm (SE), 3 nm (BSE) at 20 kV
  • 10 нм (SE) при 3 кВ
Электронно-оптический диапазон увеличения
  • До 2 000 000 раз
Легкое оптическое увеличение
  • 27 - 160x
Напряжения ускорения
  • По умолчанию: 5 кВ, 10 кВ и 15 кВ
  • Расширенный режим: регулируемый диапазон от 1 кВ до 20 кВ
Вакуумные режимы
  • Режим высокого вакуума
  • Режим среднего вакуума
  • Встроенный режим снижения заряда (режим низкого вакуума)
Детектор
  • Детектор обратно рассеянных электронов (стандарт)
  • Детектор энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDS) (опция)
  • Детектор вторичных электронов (опция)
Размер образца
  • Диаметр до 25 мм (опционально 32 мм)
Высота образца
  • До 35 мм (дополнительно 100 мм)

 

Фото примеры исследованных материалов

 

Изоляторы без покрытия, такие как эта морская раковина, могут быть правильно отображены только при низком ускоряющем напряжении. При 2 кВ (левое изображение) все еще могут наблюдаться значительные артефакты зарядки. При 1 кВ (изображение справа) эти артефакты исчезли. Изоляторы без дополнительного поверхностного покрытия, такие как эта классическая морская раковина в примере, могут быть правильно отображены визуально только при низком ускоряющем напряжении. Так как при 2 кВ (на левой части изображения) все еще могут наблюдаться довольно значительные и заметные артефакты зарядки. Но уже при 1 кВ (на правой части изображения) эти артефакты исчезли.

 

Серебряная наноструктура. На фото показана серебряная наноструктура.

 

Чувствительные материалы требуют щадящих условий. Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM с ускоряющим напряжением до 1 кВ позволяет получать изображения чувствительных к лучу образцов без покрытия образцов или другой подготовки образцов. Слева: фармацевтический порошок без повреждений при 1 кВ. Справа: тот же образец, полученный при напряжении 5 кВ, с повреждениями, что свидетельствует о необходимости получения изображения при низком напряжении кВ. Чувствительные исследуемые материалы требуют более щадящих условий. Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM с ускоряющим напряжением до 1 кВ позволяет получать хорошие изображения чувствительных к лучу исследуемых образцов без покрытия или другой специальной подготовки образцов. Слева на фото: фармацевтический порошок без повреждений при 1 кВ. Справа на этом же фото: тот же исследуемый образец, полученный при напряжении уже 5 кВ, с видимыми повреждениями, что свидетельствует о необходимости получения картинки при низком напряжении в кВ.

 

Золотые наночастицы. На фото показаны золотые наночастицы под увеличением.

 

Порошок CaCO3 (с покрытием). Порошок CaCO3 (с покрытием).

 

Полимерная пленка с покрытием. Так выглядит полимерная пленка с покрытием, при использовании настольной электронно-эмиссионной пушки Phenom Pharos G2, как и прочие примеры.

 

Легочная ткань. Легочная ткань под мощным увеличением Phenom Pharos G2.

 

Пользовательский интерфейс Phenom Pharos G2. Пользовательский интерфейс Phenom.

 

EDS & Live EDS. EDS & Live EDS.

 

Техники и возможности применения микроскопа Phenom Pharos G2

Энергодисперсионная спектроскопия

 

Энергодисперсионная спектроскопия (EDS) собирает подробную информацию об элементах вместе с изображениями, полученными с помощью электронной микроскопии, обеспечивая критический композиционный контекст для электромагнитных наблюдений. С помощью EDS химический состав может быть определен путем быстрого комплексного сканирования поверхности до отдельных атомов.

 

Элементный анализ EDS

 

EDS предоставляет важную информацию о составе для наблюдений под электронным микроскопом. В частности, наши уникальные детекторные системы Super-X и Dual-X добавляют опции для увеличения пропускной способности и / или чувствительности, позволяя оптимизировать сбор данных в соответствии с вашими исследовательскими приоритетами.

 

3D EDS Tomography

 

Современные исследования материалов все больше полагаются на трехмерный наноразмерный анализ. Трехмерная характеристика, включая данные о составе для полного химического и структурного контекста, возможна с помощью трехмерной ЭМ и энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии.

 

Картирование элементов в атомном масштабе с помощью EDS

 

EDS с атомарным разрешением обеспечивает беспрецедентный химический контекст для анализа материалов, дифференцируя элементную идентичность отдельных атомов. В сочетании с ПЭМ высокого разрешения можно наблюдать точную организацию атомов в образце.

 

Получение изображений горячих образцов

 

Изучение материалов в реальных условиях часто связано с работой при высоких температурах. Поведение материалов при их рекристаллизации, плавлении, деформации или реакции в присутствии тепла можно изучить на месте с помощью сканирующей электронной микроскопии или инструментов DualBeam.

 

Эксперименты на месте

 

Прямое наблюдение микроструктурных изменений в реальном времени с помощью электронной микроскопии необходимо для понимания основных принципов динамических процессов, таких как рекристаллизация, рост зерен и фазовые превращения во время нагрева, охлаждения и смачивания.

 

Многомасштабный анализ

 

Новые материалы необходимо анализировать с еще более высоким разрешением, сохраняя при этом более широкий контекст образца. Многомасштабный анализ Phenom Pharos G2 позволяет сопоставить различные инструменты и методы визуализации, такие как рентгеновская микроКТ, DualBeam, Laser PFIB, SEM и TEM.

 

Дополнительную документацию и информацию о FEG-SEM Thermo Scientific Phenom Pharos G2 можно найти на официальном сайте, по ссылке https://www.thermofisher.com/ua/en/home/electron-microscopy/products/desktop-scanning-electron-microscopes/phenom-pharos.html
Рубрика: Новости

Просмотров: 69
Подписаться на комментарии по RSS
Версия для печати

[Ссылки на статью]

twitter.com facebook.com vkontakte.ru odnoklassniki.ru mail.ru ya.ru rutvit.ru myspace.com technorati.com digg.com friendfeed.com pikabu.ru blogger.com liveinternet.ru livejournal.ru memori.ru google.com bobrdobr.ru mister-wong.ru yahoo.com yandex.ru del.icio.us

Еще записи по вопросам использования Microsoft Word:

Оставьте комментарий!

(обязательно)

^ Наверх