Создан новый настольный микроскоп FEG-SEM для передовых исследований наноматериалов

Новая настольная электронно-эмиссионная пушка Phenom Pharos G2 компании Thermo Fisher Scientific - сканирующий электронный микроскоп (FEG-SEM) предназначена для расширения доступа к расширенным возможностям исследования наноматериалов. Напомним, что больше новостей, цен, калькуляторов и прочей информации из мира металлургии вы всегда найдёте на портале MetallPlace.ru здесь.

 

(Фото любезно предоставлено Thermo Fisher Scientific)

 

Компания Thermo Fisher Scientific со штаб-квартирой в Уолтхэме, Массачусетс, США, представила настольную полевую эмиссионную пушку Thermo Scientific Phenom Pharos G2 - сканирующий электронный микроскоп (FEG-SEM), предназначенную для расширения доступа к передовым возможностям исследования наноматериалов. Этот прибор позволяет клиентам использовать настольный микроскоп для интуитивно понятного определения размера, формы и химического состава широкого спектра наночастиц с высоким разрешением изображения.

 

С помощью Phenom Pharos G2 материаловеды могут определять морфологию наноматериалов в таких материалах, как металлы, минералы и керамика с разрешением 2,0 нм при 20 кВ, открывая путь к достижению прогресса в производстве, электронике, чистой энергии и других приложениях. Исследователи также могут получать изображения мягких, чувствительных к лучу или изолирующих образцов при уровнях энергии всего 1 кВ, получая изображения полимеров и многослойных органических пленок с высоким разрешением без повреждения или затемнения их наноразмерных характеристик.

 

«Phenom Pharos G2 продвигает исследования наноматериалов, обеспечивая высокое разрешение и широкий диапазон ускоряющего напряжения, и все это в настольной системе, которая может поместиться в лаборатории или офисе», - заявила Рози Ли, вице-президент и генеральный менеджер по материаловедению в компании Thermo Fisher. «Этот простой в использовании прибор, от более современного текстиля и упаковки для пищевых продуктов до улучшенной солнечной и ветровой энергии, поддерживает быстрые инновации в широком спектре отраслей».

 

Phenom Pharos G2 отличается интуитивно понятным управлением и высокой производительностью, что делает его универсальным прибором для крупных промышленных и академических лабораторий. Преимущества включают:

 

1. Визуализация с высоким разрешением: пользователи могут получать изображения с высоким разрешением 2,0 нм, по сравнению с 2,5 нм в предыдущей версии.
2. Расширенный энергетический диапазон по сравнению с предыдущей моделью: более широкий диапазон ускоряющего напряжения 1-20 кВ обеспечивает универсальность для визуализации широкого диапазона образцов.
3. Быстрое получение изображения: изображения могут быть получены всего за 30 секунд для высокоточной обработки исследуемых образцов.
4. Простота использования: интуитивно понятный пользовательский интерфейс на широкоформатном мониторе 61 см (24 дюйма) с предустановками для упрощения использования и уменьшения количества человеческих ошибок при организации рабочих процессов.
5. Быстрая установка: установка на 40% быстрее, чем в предыдущей версии, ускоряя время до получения результатов.
6. Повышенная надежность: интегрированный источник питания и прочные детали предназначены для обеспечения воспроизводимости данных и сокращения перерывов в производительности.

 

Характеристики оборудования Phenom Pharos G2

 

Разрешение	2.0 nm (SE), 3 nm (BSE) at 20 kV 10 нм (SE) при 3 кВ
Электронно-оптический диапазон увеличения	До 2 000 000 раз
Легкое оптическое увеличение	27 - 160x
Напряжения ускорения	По умолчанию: 5 кВ, 10 кВ и 15 кВ Расширенный режим: регулируемый диапазон от 1 кВ до 20 кВ
Вакуумные режимы	Режим высокого вакуума Режим среднего вакуума Встроенный режим снижения заряда (режим низкого вакуума)
Детектор	Детектор обратно рассеянных электронов (стандарт) Детектор энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDS) (опция) Детектор вторичных электронов (опция)
Размер образца	Диаметр до 25 мм (опционально 32 мм)
Высота образца	До 35 мм (дополнительно 100 мм)

 

Фото примеры исследованных материалов

 

Изоляторы без дополнительного поверхностного покрытия, такие как эта классическая морская раковина в примере, могут быть правильно отображены визуально только при низком ускоряющем напряжении. Так как при 2 кВ (на левой части изображения) все еще могут наблюдаться довольно значительные и заметные артефакты зарядки. Но уже при 1 кВ (на правой части изображения) эти артефакты исчезли.

 

На фото показана серебряная наноструктура.

 

Чувствительные исследуемые материалы требуют более щадящих условий. Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM с ускоряющим напряжением до 1 кВ позволяет получать хорошие изображения чувствительных к лучу исследуемых образцов без покрытия или другой специальной подготовки образцов. Слева на фото: фармацевтический порошок без повреждений при 1 кВ. Справа на этом же фото: тот же исследуемый образец, полученный при напряжении уже 5 кВ, с видимыми повреждениями, что свидетельствует о необходимости получения картинки при низком напряжении в кВ.

 

На фото показаны золотые наночастицы под увеличением.

 

Порошок CaCO3 (с покрытием).

 

Так выглядит полимерная пленка с покрытием, при использовании настольной электронно-эмиссионной пушки Phenom Pharos G2, как и прочие примеры.

 

Легочная ткань под мощным увеличением Phenom Pharos G2.

 

Пользовательский интерфейс Phenom.

 

EDS & Live EDS.

 

Техники и возможности применения микроскопа Phenom Pharos G2

Энергодисперсионная спектроскопия

 

Энергодисперсионная спектроскопия (EDS) собирает подробную информацию об элементах вместе с изображениями, полученными с помощью электронной микроскопии, обеспечивая критический композиционный контекст для электромагнитных наблюдений. С помощью EDS химический состав может быть определен путем быстрого комплексного сканирования поверхности до отдельных атомов.

 

Элементный анализ EDS

 

EDS предоставляет важную информацию о составе для наблюдений под электронным микроскопом. В частности, наши уникальные детекторные системы Super-X и Dual-X добавляют опции для увеличения пропускной способности и / или чувствительности, позволяя оптимизировать сбор данных в соответствии с вашими исследовательскими приоритетами.

 

3D EDS Tomography

 

Современные исследования материалов все больше полагаются на трехмерный наноразмерный анализ. Трехмерная характеристика, включая данные о составе для полного химического и структурного контекста, возможна с помощью трехмерной ЭМ и энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии.

 

Картирование элементов в атомном масштабе с помощью EDS

 

EDS с атомарным разрешением обеспечивает беспрецедентный химический контекст для анализа материалов, дифференцируя элементную идентичность отдельных атомов. В сочетании с ПЭМ высокого разрешения можно наблюдать точную организацию атомов в образце.

 

Получение изображений горячих образцов

 

Изучение материалов в реальных условиях часто связано с работой при высоких температурах. Поведение материалов при их рекристаллизации, плавлении, деформации или реакции в присутствии тепла можно изучить на месте с помощью сканирующей электронной микроскопии или инструментов DualBeam.

 

Эксперименты на месте

 

Прямое наблюдение микроструктурных изменений в реальном времени с помощью электронной микроскопии необходимо для понимания основных принципов динамических процессов, таких как рекристаллизация, рост зерен и фазовые превращения во время нагрева, охлаждения и смачивания.

 

Многомасштабный анализ

 

Новые материалы необходимо анализировать с еще более высоким разрешением, сохраняя при этом более широкий контекст образца. Многомасштабный анализ Phenom Pharos G2 позволяет сопоставить различные инструменты и методы визуализации, такие как рентгеновская микроКТ, DualBeam, Laser PFIB, SEM и TEM.

 

Дополнительную документацию и информацию о FEG-SEM Thermo Scientific Phenom Pharos G2 можно найти на официальном сайте, по ссылке https://www.thermofisher.com/ua/en/home/electron-microscopy/products/desktop-scanning-electron-microscopes/phenom-pharos.html